RF Durable Low Insertion Loss Wafer Test Probes

1. RF පරිපථ පරීක්ෂණය:
පරිපථයේ ක්‍රියාකාරීත්වය සහ ස්ථායීතාවය ඇගයීම සඳහා සංඥාවේ විස්තාරය, අදියර, සංඛ්‍යාතය සහ අනෙකුත් පරාමිතීන් මැනීම මගින් RF පරිපතයේ පරීක්ෂණ ලක්ෂ්‍යයට RF පරීක්ෂණ සම්බන්ධ කළ හැක. එය RF බල ඇම්ප්ලිෆයර්, ෆිල්ටරය, මික්සර්, ඇම්ප්ලිෆයර් සහ අනෙකුත් RF පරිපථ පරීක්ෂා කිරීමට භාවිතා කළ හැක.
2. රැහැන් රහිත සන්නිවේදන පද්ධති පරීක්ෂණය:
ජංගම දුරකථන, Wi-Fi රවුටර, බ්ලූටූත් උපාංග වැනි රැහැන් රහිත සන්නිවේදන උපාංග පරීක්ෂා කිරීමට RF පරීක්ෂණය භාවිතා කළ හැක. RF පරීක්ෂණය උපාංගයේ ඇන්ටෙනා වරායට සම්බන්ධ කිරීමෙන්, සම්ප්‍රේෂණ බලය, සංවේදීතාව සහ සංඛ්‍යාතය වැනි පරාමිතීන් උපාංගයේ ක්‍රියාකාරීත්වය ඇගයීමට සහ පද්ධති නිදොස්කරණය සහ ප්‍රශස්තකරණය සඳහා මඟ පෙන්වීම සඳහා අපගමනය මැනිය හැක.
3. RF ඇන්ටෙනා පරීක්ෂණය:
ඇන්ටෙනාවේ විකිරණ ලක්ෂණ සහ ආදාන සම්බාධනය මැනීමට RF පරීක්ෂණය භාවිතා කළ හැක. ඇන්ටෙනා ව්‍යුහයට RF පරීක්ෂණය ස්පර්ශ කිරීමෙන්, ඇන්ටෙනාවේ ක්‍රියාකාරීත්වය තක්සේරු කිරීමට සහ ඇන්ටෙනා නිර්මාණය සහ ප්‍රශස්තිකරණය සිදු කිරීමට ඇන්ටෙනාවේ VSWR (වෝල්ටීයතා ස්ථාවර තරංග අනුපාතය), විකිරණ මාදිලිය, ලාභය සහ අනෙකුත් පරාමිතීන් මැනිය හැක.
4. RF සංඥා අධීක්ෂණය:
පද්ධතියේ RF සංඥා සම්ප්රේෂණය නිරීක්ෂණය කිරීම සඳහා RF පරීක්ෂණය භාවිතා කළ හැක. සංඥා දුර්වල වීම, බාධා කිරීම්, පරාවර්තනය සහ වෙනත් ගැටළු හඳුනා ගැනීමට, පද්ධතියේ දෝෂ සොයා ගැනීමට සහ හඳුනා ගැනීමට සහ අනුරූප නඩත්තු සහ දෝශ නිරාකරණ කටයුතු මෙහෙයවීමට එය භාවිතා කළ හැකිය.
5. විද්‍යුත් චුම්භක අනුකූලතා (EMC) පරීක්ෂණය:
අවට පරිසරයේ RF මැදිහත්වීම් වලට ඉලෙක්ට්‍රොනික උපාංගවල සංවේදීතාව තක්සේරු කිරීම සඳහා EMC පරීක්ෂණ සිදු කිරීමට RF පරීක්ෂණ භාවිතා කළ හැක. උපාංගය අසල RF පරීක්ෂණයක් තැබීමෙන්, බාහිර RF ක්ෂේත්‍ර සඳහා උපාංගයේ ප්‍රතිචාරය මැනීමට සහ එහි EMC ක්‍රියාකාරිත්වය ඇගයීමට හැකිය.